久久久国产亚洲精品黑人,国产精品午夜性色视频

美國CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀

CMI900 X-RAY的原理
X射線熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激勵(lì)被測樣品。樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。
利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中的每一種元素。在實(shí)際應(yīng)用中，有效的元素測量范圍為22號(hào)元素（鈦Ti）到92號(hào)元素（鈾U）。

X射線熒光的物理意義：

X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內(nèi)的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：鈉米，nm）描述。X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。一個(gè)穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。這些核外電子圍繞著原子核按不同軌道運(yùn)轉(zhuǎn)，它們按不同的能量分布在不同的電子殼層：分布在同一殼層的電子具有相同的能量。

當(dāng)具有高能量的入射（一次）X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí)，會(huì)打破原子結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性。處于低能量電子殼層（如：K層）的電子更容易被激發(fā)而從原子中逐放出來，電子的逐放會(huì)導(dǎo)致該電子殼層出現(xiàn)相應(yīng)的電子空位。這時(shí)處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會(huì)躍遷到該低能量電子殼層來補(bǔ)充相應(yīng)的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。儀器通過探測不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性，進(jìn)行分析計(jì)算得到各鍍層厚度，這一個(gè)過程就是我們所說的X射線熒光測厚。
應(yīng)用
X射線熒光鍍層測厚儀，有著快速，準(zhǔn)確，非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用
行業(yè)
用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個(gè)行業(yè)表面鍍層厚度的測量
聯(lián)系: 林先生

CMI做為***品牌在PCB及電鍍行業(yè)已形成一個(gè)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，華南地區(qū)90%以上的大型企業(yè)都在使用CMI900系列做為檢測鍍層厚度的行業(yè)工具
X-熒光鍍層測厚儀CMI900 金屬鍍層厚度的**測量

CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層
厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析.基于Windows XP
中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900主機(jī)的**自動(dòng)化控制，

技術(shù)參數(shù)：

CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都*于的測厚行業(yè)
A CMI 900 能夠測量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測定*多5層、15 種元素。
B ：**度*于世界，**到0。025um (相對(duì)與標(biāo)準(zhǔn)片)
C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求；
如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、*大值、*小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點(diǎn)，*小可達(dá)0.025 x 0.051毫米

樣品臺(tái)選擇：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對(duì)大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為：
一：手動(dòng)樣品臺(tái)
1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。
2 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。
3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

二：自動(dòng)樣品臺(tái)
1 程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。
2 超寬程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。

CMI900主要技術(shù)規(guī)格如下：
No. 主要規(guī)格規(guī)格描述
1 X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)
  空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
  標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
  功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn) X射線管功率可編程控制
  裝備有安全防射線光閘
2 濾光片程控交換系統(tǒng) 根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng)
  二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
  位置傳感器保護(hù)裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口
3 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) *多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制
  多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4 測量斑點(diǎn)尺寸在12.7mm聚焦距離時(shí)，*小測量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)
  在12.7mm聚焦距離時(shí)，*大測量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)
5 X射線探測系統(tǒng) 封氣正比計(jì)數(shù)器
  裝備有峰漂移自動(dòng)校正功能的高速信號(hào)處理電路
6 樣品室 CMI900 (選配)
  －樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室
－*大樣品臺(tái)尺寸 610mm x 610mm
－XY軸程控移動(dòng)范圍標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm任選：50.8mm x 152.4mm      50.4mm x 177.8mm      101.6 x 177.8mm      177.8 x 177.8mm      610mm x 610mm
－Z軸程控移動(dòng)高度 43.18mm XYZ程控時(shí)，152.4mmXY軸手動(dòng)時(shí)，269.2mm
－XYZ三軸控制方式多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制