數(shù)控機(jī)床維修常用診斷儀器（六）存儲(chǔ)器測試儀
存儲(chǔ)器測試儀基本上采用功能測試原理制成。為了實(shí)現(xiàn)功能測試，它由產(chǎn)生測試圖案的專用計(jì)算機(jī)（微型機(jī)或小型機(jī)），加上接口裝置、時(shí)鐘發(fā)生器、I/O裝置及電源等組成，泊頭巨人重工機(jī)械有限公司是一家專業(yè)生產(chǎn)、立車、數(shù)控立車、數(shù)控龍門銑床、龍門加工中心、數(shù)控落地鏜銑床的生產(chǎn)廠家，對(duì)存儲(chǔ)器測試儀的選擇和應(yīng)用也有一定的心得。
如圖1-28所示。
測試圖案發(fā)生器是存儲(chǔ)器測試儀的核心設(shè)備，用以產(chǎn)生測試圖案和標(biāo)準(zhǔn)信息。日前，產(chǎn)生測試罔案的方法主要有：
①由專門的圖案生成系統(tǒng)產(chǎn)生，存入測試儀存儲(chǔ)器內(nèi)，然后輸給被測存儲(chǔ)器作為測試碼；
②由測試儀隨機(jī)產(chǎn)生測試圖案，并自動(dòng)控制測試數(shù)據(jù)的循環(huán)；
③由測試儀軟件自動(dòng)產(chǎn)生測試圖案，并控制對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測試。種方法比較簡單，應(yīng)用較廣，如驪山微電子公司研制的LS-83存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)就采用這種方法。種方法，費(fèi)用低廉，但速度較低。InteL 8086微型計(jì)算機(jī)（國產(chǎn)DSK - 85微機(jī)）對(duì)存儲(chǔ)器的測試圖案就是用軟件自動(dòng)產(chǎn)生的，其檢測一個(gè)4KB的存儲(chǔ)器僅需3s時(shí)間。第二種方法有一定的*性，但比較復(fù)雜，目前應(yīng)用不夠廣泛。
在這里，測試圖案發(fā)生器是由測試臺(tái)內(nèi)的專用小型計(jì)算機(jī)（或微型計(jì)算機(jī)）構(gòu)成。它產(chǎn)生的測試圖案存人自已的存儲(chǔ)器中，然后由控制處理器控制循環(huán)使用。接口電路包括將輸入圖案變?yōu)檩斎氩ㄐ?ldquo;波形選擇器”，以及為實(shí)現(xiàn)輸入、輸出信息電平轉(zhuǎn)換的駙動(dòng)器及其連接線路。定時(shí)裝置用以產(chǎn)生各種輸入波形的多路相脈沖、選通脈沖等時(shí)序信號(hào)。
美國IBM公司生產(chǎn)的MD診斷器，事先生成測試圖案及測試程序，存入磁盤。使用時(shí)，將該測試儀直接和計(jì)算機(jī)的存儲(chǔ)器相連接，并由操作面板和鍵盤啟動(dòng)操作，即可對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測試。MD測試儀是一種比較嚴(yán)密、精確的測試儀，能對(duì)存儲(chǔ)器自動(dòng)執(zhí)行尋找故障程序，快速分析故障癥碼，自動(dòng)進(jìn)行微診斷，并能與遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)維護(hù)支持中心通信，接受來自遠(yuǎn)程維護(hù)支持中心的維護(hù)指導(dǎo)，快速診斷計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器的故障，大大地方便了維護(hù)及檢測工作，也提高了IBM計(jì)算機(jī)的利用率。
圖1-29是LS-83存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)組成框圖。其核心是一臺(tái)Heuriken MLZ- 91微型計(jì)算機(jī)和測試儀，而測試儀是一個(gè)寧長為32位，容量為1KB的隨機(jī)存儲(chǔ)器。該存儲(chǔ)器部分作控制存儲(chǔ)器作用，用Sightics88×02A控制電路控制微程序的執(zhí)行。測試系統(tǒng)對(duì)存儲(chǔ)器的測試是通過測試儀內(nèi)控制存儲(chǔ)器中的微程序進(jìn)行的。測試系統(tǒng)中的微型計(jì)算機(jī)是在測試軟件的支持下對(duì)測試儀發(fā)出命令，以啟動(dòng)、停止或繼續(xù)執(zhí)行測試微程序。使用時(shí)，測試軟件按照操作人員的選擇，從測試儀微程序文件中將微測試程序調(diào)入到微計(jì)算機(jī)內(nèi)存，然后把測試儀的控制存儲(chǔ)器作為微機(jī)的板外存儲(chǔ)器。
測試微程序文件中的各測試微程序段，分別以不同的圖案，如走步、跳步、對(duì)角線移動(dòng)、鄰位打擾、棋盤圖案、行打擾、列打擾等方式，對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測試。
它能對(duì)靜態(tài)和動(dòng)態(tài)MOS存儲(chǔ)器進(jìn)行比較嚴(yán)格的功能榆查。當(dāng)存儲(chǔ)器電路出現(xiàn)故障時(shí)，能比較準(zhǔn)確地進(jìn)行故障定位，并顯示出如下故障信息：
①存儲(chǔ)器的故障定位信息；
②所執(zhí)行的測試微程序段名稱或程序段號(hào)；
③出錯(cuò)微指令的地址；
④被測存儲(chǔ)器的出錯(cuò)單元地址；
⑤正確操作數(shù)和錯(cuò)誤操作數(shù)。
這時(shí)，操作人員可以按照輸出的故障信息，更換有關(guān)存儲(chǔ)器組件，調(diào)試修復(fù)機(jī)器。
對(duì)于其他故障，如奇偶校驗(yàn)錯(cuò)、超時(shí)錯(cuò)、動(dòng)態(tài)MOS存儲(chǔ)器刷新時(shí)限錯(cuò)等錯(cuò)誤，還能輸出故障類型為診斷、修復(fù)存儲(chǔ)器提供有效信息。它可以利用測試系統(tǒng)設(shè)置的6條命令，隨時(shí)干預(yù)測試過程，靈活地安排測試內(nèi)容和執(zhí)行方式，以診斷和定位故障。
這種存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)已成功地用于LS - 83微型計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器的測試中，它也適用于其他不同容量和型號(hào)的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)測試。
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